测绘科学

1986, (02) 44-45

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《X射线摄影测量学》评介

李道义

摘要(Abstract):

<正> 苏联莫斯科出版社,1981年出版一部内容新颖的书,全书160页,共分六章。第一章:X射线图象的基本性质;第二章:单张X射线象片的性质;第三章:X射线立体象片对的性质;第四章:X射线立体摄影测量的精度;第五章:X射线立体摄影测量技术;第六章:X射线立体摄影测量的应用领域;最后列出参考文献45篇。该书全面阐述了X射线摄影测量学的产生和发展。对X射线立体摄影测量学的理论和实践均有较详尽的论述。

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作者(Author): 李道义

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